一、X-ray是什么?
X-ray是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出。而对于样品无法以外观方式观测的位置,利用X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像,即可显示出待测物的内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。
半导体工业中X-ray的应用。
目前常用的晶片检测方法是将晶片层层剥开,再用电子显微镜拍摄每一层表面,这种检测方式对晶片有很大破坏,此时,X射线无损检测技术或许能助一臂之力。电子器件X射线检测仪主要是利用X射线照射芯片内部,由于X射线的穿透力非常强,能够穿透芯片后成像,其内部结构的断裂情况可以清楚地显示出来,用X射线对芯片进行检测的*主要特点是对芯片本身没有损伤,因此这种检测方式也叫无损探伤。
X-ray检测技术通过对X-RAY材料的吸收差异,对物体内部结构进行成像,然后进行内部缺陷检测,在工业探伤、检测、医i疗检测、安全检测等领域得到广泛应用。
1.可以用来检测某些金属材料及其部件,电子部件或LED部件是否有裂纹,以及是否有异物。
可对BGA、电路板等进行内部检测和分析。
2.对BGA焊接中出现的断丝、虚焊等缺陷进行检测和判断。
3.它能检测和分析电缆、塑料部件、微电子系统、粘合剂和密封组件的内部状态。
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